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zeta電位儀-顯微成像法

更新時(shí)間:2024-01-03

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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

設(shè)備型號:

簡要描述:
zeta電位分析儀-顯微成像法的密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測量室底部。ZetaCompact®采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
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   提到zeta電位分析儀,我們需要先了解一下zeta電位,Zeta 電位基礎(chǔ)理論的創(chuàng)立者是波蘭科學(xué)家斯莫魯霍夫斯基(Smoluchowski)zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子(即反離子),其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合,構(gòu)成固定吸附層,又稱Stern層;
  另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相反作用的平衡,分布在顆粒周圍溶液中,構(gòu)成擴(kuò)散層.位于Stern層的反離子由于強(qiáng)大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱,形成了擴(kuò)散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運(yùn)動(dòng)時(shí),會(huì)帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動(dòng),與液體之間形成滑動(dòng)面,定義滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位分析儀。
 
  zeta電位分析儀-顯微成像法的特征:
  zeta電位儀的密度高或粒徑大的顆粒會(huì)沉積在測量室底部。ZetaCompact、采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案,在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
  1、 一種模塊化工具,用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題,并計(jì)算膠體懸浮液的zeta電位儀。
  2、激光照明和視頻接口能實(shí)現(xiàn)亞微米粒子的測量。
  3、石英測量池組裝了兩對鈀電,構(gòu)成*對稱的腔室。
  4、動(dòng)態(tài)安裝,便于接入石英池。清洗后的測量池可快速準(zhǔn)確地定位。
  5、用快速響應(yīng)微探針原位測量樣品溫度。
  6、圖像分析軟件對粒子進(jìn)行全自動(dòng)跟蹤。
 
  zeta電位分析儀-顯微成像法的應(yīng)用領(lǐng)域:
  1、顏料;
  2、礦物浮選;
  3、生物學(xué);
  4、免疫學(xué);
  5、乳濁液;
  6、微乳液;
  7、脂質(zhì)體;
  8、水處理;
  9、紙漿和紙;
  10、陶瓷;
  11、聚合物膠乳;
  12、納米顆粒;
  13、水泥;
  14、粘土;

   影響Zeta 電位的因素有很多,最主要有三點(diǎn):
 ?。?)pH的變化
  (2)電導(dǎo)率 (濃度,鹽的類型)
 ?。?)組成成分濃度的變化 (如高分子,表面活性劑)
  之所以用zeta電位分析儀來檢測樣品,主要是Zeta電位在儀器儀表行業(yè)的重要性表現(xiàn)其數(shù)值與膠體的穩(wěn)定性相關(guān),是對顆粒之間相互排斥力強(qiáng)度的度量。zeta電位越高,顆粒間排斥力越大,,顆粒分散性越好,體系就越穩(wěn)定;反之,zeta電位越低,顆粒間排斥力越小,體系越不穩(wěn)定,從而導(dǎo)致凝結(jié)或凝聚。一般來說,zeta電位的大于30mV時(shí),體系穩(wěn)定,小于30mV時(shí),體系不穩(wěn)定。
 

zeta電位分析儀

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